Метод повышения метрологической надежности аналоговых блоков информационно-измерительных систем

Тип работы:
Диссертация
Предмет:
Информационно-измерительные и управляющие системы
Страниц:
171
Узнать стоимость новой

Детальная информация о работе

Выдержка из работы

Одной из важнейших характеристик качества технических средств является его надежность. Для средств измерений (СИ), в том числе и для информационно — измерительные системы (ИИС), особое значение имеет обеспечение их метрологической надежности (МН).

Актуальность темы исследования.

МН ИС определяет их свойство сохранять во времени метрологические характеристики (МХ) в пределах установленных норм при эксплуатации в заданных режимах и условиях использования, техническом обслуживании, хранении и транспортировании. Следовательно, МН определяется характером и темпом изменения нормируемых МХ ИС.

В настоящее время среди различных групп СИ, наиболее эффективно используемых в промышленности в качестве измерительно-вычислительных средств, широкое применение получили ИИС, характеризующиеся разнообразием выполняемых функций и позволяющие реализовывать достаточно сложные алгоритмы измерения. Алгоритмическая, структурная и конструктивная сложность ИИС, делает актуальным вопрос обеспечения необходимого уровня их МН.

Для ИИС наиболее значимым показателем МН является метрологический ресурс, оцениваемый временем пересечения реализаций нестационарного случайного процесса изменения во времени МХ границ поля допуска, и вероятность сохранения метрологической исправности в произвольный момент времени эксплуатации.

Как показывают теоретические и практические исследования, наиболее ответственными для ИИС в метрологическом отношении являются аналоговые блоки, входящие в состав измерительных каналов и выполняющие различные функции преобразования измеряемой величины. Преобладание для таких блоков в общем потоке отказов постепенных метрологических отказов, определяемых только при проведении метрологических поверок и вызванных постепенным изменением, а в конечном итоге, выходом за допуск метрологических характеристик, выдвигают на первый план вопрос оценки метрологической надежности аналоговых блоков, входящих в измерительный канал, ИИС в целом

Объект исследования: метрологическая надежность аналоговых блоков ИИС.

Предмет исследования: процессы изменения метрологических характеристик ИИС.

Методы исследования базируются на использовании математического моделирования, метрологии, математической статистики и компьютерном моделировании.

Научная новизна в диссертации получены следующие основные результаты, характеризующиеся научной новизной:

1. Разработан метод повышения метрологической надежности аналоговых блоков измерительных каналов и ИИС в целом, отличающийся изменением номиналов элементной базы, обеспечивающих при заданном схемотехническом решении аналоговых блоков оптимальные значения показателей их метрологической надежности.

2. Предложены новые алгоритмы повышения метрологической надежности ИИС по критериям заданного значения метрологического ресурса, максимума значения метрологического ресурса и максимума вероятности сохранения метрологической исправности. Алгоритмы заключаются в поиске оптимальных значений номиналов элементной базы аналоговых блоков ИИС на этапе их проектирования.

3. Разработана обобщенная методика оценки и повышения метрологической надежности информационно-измерительных систем, в которой впервые предложен единый алгоритм повышения показателей метрологической надежности исследуемых СИ при их проектировании.

Основные положения, выносимые на защиту:

1. Метод повышения метрологической надежности проектируемых ИИС при заданном их схемотехническом решении.

2. Алгоритм повышения метрологической надежности аналоговых блоков ИИС по критерию заданного метрологического ресурса.

3. Алгоритм повышения метрологической надежности аналоговых блоков ИИС по критерию максимума метрологического ресурса.

4. Алгоритм повышения метрологической надежности аналоговых блоков ИИС по критерию максимума вероятности метрологической исправности в произвольный момент времени предстоящей эксплуатации.

5. Обобщенная методика оценки и повышения метрологической надежности ИИС.

Целью диссертационной работы является повышение метрологической надежности ИИС с помощью разработки метода повышения показателей метрологической надежности аналоговых блоков ИИС на этапе их проектирования при заданном схемотехническом решении.

Для достижения поставленной цели необходимо решить следующие задачи:

— разработать алгоритм повышения метрологической надежности по критерию заданного значения метрологического ресурса ИИС-

— разработать алгоритм повышения метрологической надежности ИИС по критерию максимума метрологического ресурса-

— разработать алгоритм повышения метрологической надежности по критерию максимума вероятности сохранения метрологической исправности ИИС.

Практическая значимость и результаты внедрения.

1. Разработанный метод повышения метрологической надежности при проектировании аналоговых блоков ИИС позволяет повысить показатели метрологической надежности разрабатываемых СИ при неизменном их схемотехническом решении и сохранении их функционального назначения.

2. Создано программное обеспечение, реализующее алгоритмы повышения метрологической надежности ИИС.

3. Использование разработанных алгоритмов и программ их реализации позволяет повысить метрологическую надежность АБ и ИИС в целом не менее чем на 9%.

4. Результаты диссертационной работы приняты к использованию на ОАО & laquo-Талвис»- и кафедре КРЭМС ФГБОУ ВПО & laquo-ТГТУ»-.

5. Результаты работы могут быть использованы в качестве инженерных методик оценки и повышения метрологической надежности широкого класса электронных ИС.

Апробация работы. Основные научные и практические результаты исследований по теме диссертации докладывались на IV Международной научно-практической интернет-конференции & laquo-Перспективные вопросы мировой науки& raquo- (Днепропетровск, 2008), Международной научно-технической конференции & laquo-Диагностика — 2009″ (Курск, 2009), 5-й Международной заочной научно-практической конференции & laquo-Глобальный научный потенциал& raquo- (Тамбов, 2009), XIV научной конференции ТГТУ & laquo-Фундаментальные и прикладные исследования, инновационные технологии, профессиональное образование& raquo- (Тамбов, 2009), Седьмой Международной теплофизической школе & laquo-Теплофизические исследования и измерения в энергосбережении, при контроле, управлении и улучшении качества продукции, процессов и услуг& raquo- (Тамбов, 2010), II Международной кластерной научно-практической конференции & laquo-Аспекты ноосферной безопасности в приоритетных направлениях деятельности человека& raquo- (Тамбов, 2011), Международной научной конференции & laquo-Актуальные научные достижения& raquo- (Чехия, 2011), Всероссийской научной школе & laquo-Актуальные проблемы нано- и микроэлектроники& raquo- (Тамбов, 2011).

Публикации. По материалам диссертации опубликовано 13 печатных работ, в том числе четыре статьи в ведущих рецензируемых научных журналах.

Структура и объем работы. Диссертация состоит из введения, четырех глав, заключения, списка литературы, трех приложений, изложена на 170 страницах и содержит 22 рисунка, 12 таблиц, список литературы включает 107 наименований.

Основные результаты диссертационной работы заключаются в следующем.

1. В результате анализа существующих методов повышения МН ИИС показано, что они не учитывают оптимальный выбор элементной базы. Это снижает адекватность построенных математических моделей метрологических характеристик, а также эффективность и точность прогнозирования метрологической надежности проектируемых ИИС. Поэтому первоочередной задачей в области метрологического обеспечения ИИС является разработка методов повышения метрологической надежности с учетом оптимального выбора элементной базы.

2. Предложен метод повышения показателей МН ИИС. Метод позволяет выбрать элементную базу, обеспечивающую при заданном схемотехническом решении АБ оптимальные значения показателей МН для проектируемого аналогового блока измерительного канала и ИИС при условии сохранения функционального назначения проектируемых СИ.

3. Разработан алгоритм повышения метрологической надежности ИИС по критерию требуемой величины метрологического ресурса, основанный на математическом моделировании метрологических характеристик исследуемого блока, алгоритм заключается в поиске оптимальных значений параметров элементной базы АБ, обеспечивающих требуемое значение выбранного показателя МН.

4. Предложен алгоритм поиска максимума метрологического ресурса АБ, составляющих ИК ИИС, который позволяет при использовании математической модели АБ и базы данных по элементам определить максимально возможное значение метрологического ресурса исследуемого АБ и ИИС в целом.

5. Разработан алгоритм повышения МН ИИС по критерию вероятности сохранения метрологической исправности. Алгоритм заключается в поиске оптимальных значений параметров элементной базы АБ ИИС, обеспечивающих максимальное значение показателя вероятности сохранения метрологической исправности в произвольный момент времени предстоящей оптимизации ИИС.

6. На основе предложенного в диссертации метода разработана обобщенная методика повышения МН ИИС, которая позволяет реализовать единый алгоритм прогнозирования метрологической надежности исследуемых СИ при их проектировании и повышения выбранного показателя МНИИС.

7. Экспериментальная проверка предложенной обобщенной методики позволяет дать вероятностную оценку выбранных показателей МН таких устройств, а также увеличить значение показателя метрологической надежности ИИС более чем на 9%.

В результате выполнения диссертационной работы получено решение научной задачи оценки и повышения МН ИИС на основе математического моделирования нестационарных случайных процессов изменения во времени, исследуемых МХ с использованием аппарата аналитико-вероятностного прогнозирования и разработки метода повышения МН ИИС.

34. Ильин, В. Н. Автоматизация схемотехнического проектирования: учеб. пособие для вузов / В. Н. Ильин, В. Т. Фролкин, А. И. Бутко [и др. ]- под ред. В. Н. Ильина. — М.: Радио и связь, 1987. — 368 с.

35. Скрипка, B. JI. Повышение метрологической надежности ИИС при использовании взаимокорреляционной обработки сигналов измерительных каналов / B. JI. Скрипка, М. В. Лунева, Ю. Ю. Вахрушева // Измерительная техника. — 2006. — № 3. — С. 15−18

36. Metrology in industry: the key foi quality / edited by French College of Metrology. — ISTE. — 2006. — 270p.

37. Чернышова, Т. И. Разработка и исследование методики прогнозирования состояния метрологических характеристик аналоговых блоков информационно-измерительных систем в процессе эксплуатации: дис. канд. техн. наук: № специальности 05. 11. 16 / Чернышова Татьяна Ивановна-Л., 1979. -189 с.

38. ГСИ. Метрология. Основные термины и определения: рекомендация Госстандарта М И 2247−93. — СПб.: ВНИИМ им. Д. И. Менделеева, 1994. — 60 с.

39. Алгоритмическое обеспечение отказоустойчивости распределенных систем управления / H.A. Захаров [и др.] // Радиоэлектронные и компьютерные системы. — 2008. — № 7. — С. 43−48.

40. Раннев, Г. Г. Интеллектуальные средства измерений: учеб. / Г. Г. Раннев. — М.: Академия. — 2010. — 272 с.

41. Джексон, Р. Г. Новейшие датчики / Р. Г. Джексон. — М.: Техносфера, 2007. -384 с.

42. Мищенко, C.B. Метрологическая надежность измерительных средств / C.B. Мищенко, Э. И. Цветков, Т. И. Чернышова. — М.: Машиностроение, 2001. -218 с.

43. Ратхор, Т. С. Цифровые измерения. АЦП/ЦАП / Т. С. Ратхор. — М.: Техносфера, 2006. — 392 с.

44. Пригожин, И. Современная термодинамика / И. Пригожин, Д. Кондепуди. — М.: Мир, 2002. — 460 с.

45. Млицкий, В. Д. Испытание аппаратуры и средства измерений на воздействие внешних факторов / В. Д. Млицкий, В. Х. Беглария, Л. Г. Дубицкий. — М.: Машиностроение, 2003. — 567 с.

46. Вучков, И. Прикладной регрессионный анализ / И. Вучков, Л. Бояджиева, Е. Солаков. — М.: Финансы и статистика, 1987. — 240 с.

47. Дрейпер, Н. Прикладной регрессионный анализ: в 2 кн. / Н. Дрейпер, Г. Смит. — М.: Финансы и статистика, 1986. — 2 кн.

48. Володарский, Е. Т. Планирование и организация измерительного эксперимента / Е. Т. Володарский, Б. Н. Малиновский, Ю. М. Туз. — Киев: Вища. шк., 1987. -280 с.

49. Монтгомери, Д. К. Планирование эксперимента и анализ данных: пер. с англ. / Д. К. Монтгомери. — Л.: Судостроение, 1980. — 384 с.

50. Интегральные микросхемы: справ. / Б. В. Тарабрин, Л. Ф. Лунин, Ю. Н. Смирнов [и др. ]- под ред. Б. В. Тарабрина. — 2-е изд., испр. — М.: Энергоатомиздат, 1985. — 528 с.

51. Северцев, H.A. Надежность сложных систем в эксплуатации и отработке / H.A. Северцев. — М.: Высш. шк., 1989. — 431 с.

52. Арутюнов, П. А. Теория и применение алгоритмических измерений /

П.А. Арутюнов. — М.: Энергоатомиздат, 1990. — 256 с.

53. Чернышова, Т. И. Методы и средства неразрушающего контроля теплофизических свойств материалов / Т. И. Чернышова, В. Н. Чернышов. — М.: Машиностроение-1, 2001. — 240 с.

54. Фридман, А. Э. Основы метрологии. Современный курс / А. Э. Фридман. — СПб.: НПО & laquo-Профессионал»-, 2008. — 284 с.

55. РМГ 43−2001. Рекомендации по межгосударственной стандартизации. Государственная система обеспечения единства измерений. Применение

Руководства по выражению неопределенности измерений& raquo-, введены Постановлением Госстандарта Р Ф от 26. 03. 2003 N 96-ст

56. Селезнев, A.B. Методика оценки метрологической надежности средств измерений / A.B. Селезнев, Т. И. Чернышова // Труды Тамб. гос. техн. ун-та. -1998. -Вып. 2. -С. 122−126.

57. Методика выбора межповерочных интервалов средств измерений / С. Д. Балакирева [и др.] // Измерительная техника. — 1987. — № 10. — С. 15−17.

58. Волович, Г. И. Интегрирующие АЦП [Электронный ресурс] / Г. И.

Волович. — Режим доступа:

59. Гутников, B.C. Интегральная электроника в измерительных устройствах / B.C. Гутников. — JL: Энергия, 1980. — 248 с.

60. Хоровиц, П. Искусство схемотехники: пер. с англ.: в 2 т. / П. Хоровиц, У. Хилл. — М.: Мир, 1986. — 590 с. — 2 т.

61. Проблема и специфика надежности измерительных устройств / В. О. Арутюнов [и др.] // Измерительная техника. — 1969. — № 3. — С. 9−13.

62. Мандельштам, С. М. Информационная надежность / С. М. Мандельштам // Труды Ленинградского института авиационного приборостроения. — 1966. -Вып. 48. -С. 102−109.

63. Иванов, Б. С. Связь между точностью и надежностью некоторых теплоэнергетических приборов / Б. С. Иванов, Д. В. Свечарник // Измерительная техника. — 1970. — № 5. — С. 76−78.

64. Богданов, Г. П. Метрологическое обеспечение и эксплуатация измерительной техники / Г. П. Богданов. — М.: Энергия, 1990. — 328 с.

65. Вопросы качества радиодеталей / Б. Ю. Геликман [и др.]. — М.: Сов. радио, 1980. — 352 с.

66. Теоретические и практические основы теплофизических измерений: моногр. / C.B. Пономарев, C.B. Мищенко, А. Г. Дивин [и др. ]: под ред. C.B. Пономарева. — М.: ФИЗМАТЛИТ, 2008. — 408 с.

67. Ротенберг, Б. А. Керамические конденсаторные диэлектрики / Б. А. Ротенберг. — СПб.: Типография ОАО НИИ & quot-Гириконд"-, 2000. — 246 с. Вопросы качества радиодеталей / Б. Ю. Геликман, Г. А. Горячева, Л. Д. Кристаллинский, В. В. Стальбовский. — М.: Сов. радио, 1980. — 352 с.

68. Кондрашкова, Г. А. Количественная оценка нестабильности погрешности электронных измерительных устройств / Г. А. Кондрашкова // Стандарты и качество. — 1967. — № 5. — С. 23−24.

69. Рябинов, М.Н. К оценке надежности геофизической аппаратуры с учётом постепенных отказов / М. Н. Рябинов, Г. А. Кондрашкова, H.A. Бачманов // Геофизическая аппаратура. — 1970. — Вып. 42. — С. 165−168.

70. Методика: Обеспечение надежности на этапе проектирования. Прогнозирование стабильности и оценка серийнопригодности аналоговых устройств / Государственный комитет стандартов Совета Министров СССР. -М., 1976. — 43 с.

71. Бедова, Е. М. Исследование долговечности аналоговых устройств, обладающих высокой надежностью / Е. М. Бедова // Труды Всесоюзного научно-исследовательского института электроизмерительных приборов.

1973. -№ 16. -С. 148−155.

72. Батова, Г. П. Статистический метод оценки стабильности аналоговых приборов контроля и регулирования по результатам экспериментальных исследований / Г. П. Батова, A.M. Звягинцев // Труды НИИТП. — 1974. — Вып. 81. -С. 12−20.

73. Цейтлин, В. Г. Интегральный расчёт метрологической надёжности средств измерений / В. Г. Цейтлин, А. Х. Цизис // Измерительная техника.

1974. -№ 3. -С. 12−13

74. Изменение надёжности электроизмерительных приборов при их длительной эксплуатации / B.C. Лабунец [и др.] // Измерительная техника. -1974. -№ 3. -С. 59−60.

75. Абуладзе, И. В. Определение изменений во времени метрологических характеристик средств измерений / И. В. Абуладзе, А. И. Беляевский, A.A. Джевдет // Измерительная техника. — 1978. — № 2. — С. 9−12.

76. Чернышова, Т. И. Разработка и исследование методики прогнозирования состояния метрологических характеристик аналоговых блоков информационно-измерительных система процессе эксплуатации: дис. канд. техн. наук: № специальности: 05. 11. 16 / Чернышова Татьяна Ивановна — Ленингр. электротехн. ин-т им. В. И. Ульянова (Ленина). — Л., 1979. — 198 с.

77. Тарбеев, Ю.В. Научно-технические перспективы обеспечения надёжности средств измерений / Ю. В. Тарбеев, В. Н. Иванов, П. В. Новицкий // Измерительная техника. — 1982. — № 5. — С. 17−19.

78. Свинцов, B.C. Определение показателей надёжности средств измерений в процессе их эксплуатации / B.C. Свинцов // Измерительная техника. — 1982. -№ 8. -С. 10−13.

79. Кузнецов, В. А. Вопросы обеспечения метрологической надёжности средств измерений / В. А. Кузнецов // Измерительная техника. — 1984. — № 1. -С. 8−10.

80. Екимов, A.B. О метрологической надёжности средств электроизмерительной техники / A.B. Екимов // Измерительная техника. -1984. -№ 1. -С. 10−11.

81. Екимов, A.B. Прогнозирование и обеспечение надёжности средств измерений с учётом явных и скрытых отказов / A.B. Екимов, Ю. М. Макаров, М. И. Ревяков // Измерительная техника. — 1990. — № 6. — С. 3−4.

82. Соболь, И. М. Численные методы Монте-Карло / И. М. Соболь. — М.: Наука, 1973. -312 с.

83. Мозгалевский, A.B. Техническая диагностика: Непрерывные объекты / A.B. Мозгалевский, Д. В. Гаскаров. — М.: Высш. шк., 1975. — 206 с.

84. Фрумкин, В. Д. Теория вероятностей и статистика в метрологии и измерительной технике / В. Д. Фрумкин, H.A. Рубичев. — М.: Машиностроение, 1987. — 168 с.

85. Богданов, Г. П. Использование счётчиков времени наработки для планирования метрологического обслуживания средств измерений / Г. П.

Богданов, М. А. Лотонов, Г. В. Салюк // Измерительная техника. — 1989. — № 9. -С. 58−59.

86. Кендалл, М. Многомерный статистический анализ и временные ряды / М. Кендалл, А. Стьюарт. — М.: Наука, 1976. — 736 с.

87. Отхман, Н. З. Метод повышения метрологической надежности измерительных систем путём оптимального выбора номиналов элементов / Н. З. Отхман, И. Г. Васильев // Труды Тамб. гос. техн. ун-та. — 2008. — Вып. 21. -С. 139−143.

88. Чернышова, Т. И. Повышение метрологического надежности электронных измерительных средств / Т. И. Чернышова, Н. З. Отхман // Бъдещето проблемите на световната наука — 2008: материали за IV междунар. науч. практ. конф., 17−25 дек. 2008. — София, 2008.- С 29−31.

89. Чернышова, Т. И. Метод повышения метрологического ресурса при проектирований электронных измерительных средств / Т. И. Чернышова, Н. 3. Отхман, И. Г Васильев // Фундаментальные и прикладные исследования, инновационные технологии, профессиональное образование: 13 науч. конф. Тамб. гос. тех. ун-та. — Тамбов, 2008. — С. 63−64.

90. Чернышова, Т. И. Повышение метрологической надежности аналоговых блоков информационно-измерительных систем / Т. И. Чернышова, Н. З. Отхман // Информационно-измерительные, диагностические и управляющие системы: 1-я междунар. науч. -техн. конф., / Курский гос. тех. ун-т., 13−15 мая 2009 г. -Курск, 2009. — 4.1. — С. 24−27.

91. Чернышова, Т. И. Повышение метрологического ресурса при проектировании измерительных систем / Т. И. Чернышова, Н. 3. Отхман, В. И. Полухин // Глобальный научный потенциал: V Междунар. заоч. науч. -практ. конф., 16−17 июня 2009 / Тамб. гос. техн. ун-т. — Тамбов, 2009. — С. 48−49.

92. Чернышова, Т. И. Повышение показателей метрологической надежности аналоговых блоков информационно-измерительных систем / Т. И. Чернышова, Н. З. Отхман // Теплофизические исследования и измерения в энергосбережении, при контроле, управлении и улучшении качества продукции, процессов и услуг: VII Междунар. теплофиз. шк. — Тамбов, 2010. -С. 135 -137.

93. Отхман, Н. З. Повышение показателей метрологической надежности электронных измерительных средств / Н. З. Отхман // Аспекты ноосферной безопасности в приоритетных направлениях деятельности человека: материалы II Междунар. кластер, науч. — практ. конф. — Тамбов, 2011. — С. 86−87.

94. Отхман, Н. З. Метод повышения уровня метрологической надежности проектируемых электронных измерительных средств / Н. З. Отхман // Актуальные научные достижения, 27 июня — 05 июля 2011 г., Чехия. -2011 -С 54−56.

95. Отхман, Н. З. Оценка и повышение метрологического ресурса проектируемых электронных измерительных средств / Н. З. Отхман, В. И. Полухин // Актуальные проблемы нано — и микроэлектроники: Всерос. науч. шк. — Тамбов, 2011. — С. 220- 221.

96. Свидетельство № 2 011 610 915 о регистрации программы для ЭВМ. Программа оценка и повышения метрологической надежности по критерию максимума метрологического ресурса / Чернышова Т. И., Отхман Н. З. (РФ) — опубл. 24. 01. 2011

97. Свидетельство № 2 011 611 057 о регистрации программы для ЭВМ. Программа оценка и повышения метрологической надежности по критерию требуемого метрологического ресурса / Чернышова Т. И., Отхман Н. З. (РФ) — опубл. 31. 01. 2011

98. Отхман, Н. З. Математическое моделирование метрологических характеристик аналоговых измерительных средств / Н. З. Отхман // Вопросы современной науки и практики. — 2007. — № 1(7). — С. 197−200.

99. Чернышова, Т. И. Повышение метрологической надежности аналоговых блоков измерительных систем / Т. И. Чернышова, Н. З. Отхман, Л. И. Рожнова // Вестн. Тамб. гос. тех. ун-та. — 2009. — Т. 15, № 1. — С. 80−85.

100. Чернышова, Т. И. Повышение показателей метрологической надежности проектировании информационно — измерительных систем / Т. И. Чернышова, Н. З. Отхман, В. И. Полухин // Вестн. Тамб. гос. тех. ун-та.- 2011. -Т. 17, № 2. -С. 365−370

101. Чернышова, Т. И. Повышение метрологической надежности информационных — измерительных систем / Т. И. Чернышова, Н. З. Отхман // Вопросы современной науки и практики. — 2011. — № 36. (Спец. выпуск). — С. 86−90.

102. Рубичев, А. Н. Измерительные информационные системы / А. Н. Рубичев. — М.: Дрофа, 2010. — 334 с.

103. Бейко, И. Н. Методы и алгоритмы решения задач оптимизации / И. Н. Бейко, Б. Н. Бублик, П. Н. Зинько. — Киев: Высш. шк., 1983. — 512 с.

104. Информационно — измерительная техника и электроника: учеб. для студентов вузов / Г. Г. Раннев [и др.]. — М.: Академия, 2006. — 512 с.

105. Васильев, Ф. П. Методы оптимизации / Ф. П. Васильев. — М.: Фактороил проесс 2002, 824с.

106. Пономарев, C.B. Методические рекомендации по формулированию научной новизны в автореферате диссертационной работы / С В. Пономарев. Е. С. Мищенко // Вестник Тамб. гос. техн. ун-та, 2011. — Т. 17, № 3. — С. 853−860.

107. Васильева, H.H. О долговременной стабильности метрологических характеристик измерительных информационных систем / H.H. Васильева, A.A. Пантелеев // Труды Ленинградского политехнического института им. М. И. Калинина. — 1975. — № 342. — С. 10−11

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Показать Свернуть

Содержание

1 ТЕОРЕТИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ СОСТОЯНИЯ ПРОБЛЕМЫ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ. ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ ИССЛЕДОВАНИЯ.

1.1 Характеристика состояния проблемы метрологической надежности средств измерений.

1.2 Краткий обзор и анализ известных путей решения задач оценки и повышения метрологической надежности средств измерений

1.2.1 Методы оценки и прогнозирования состояния метрологических характеристик средств измерений.

1.2.2 Методы повышения метрологической надежности средств измерений.

1.3 Обоснование и выбор методов поиска оптимальный значений метрологической надежности ИИС.

1.3.1 Метод покоординатного спуска (Гаусса-Зейделя).

1.3.2 Метод конфигураций.

1.3.3 Метод Розенброка.

1.3.4 Метод случайного поиска.

1.3.5 Метод сопряженных направлений Пауэлла.

1.4 Постановка задачи оценки и повышения метрологической надежности. Выбор критериев (показателей) надежности.

Выводы.

2 Методы повышения метрологической надежности информационно измерительных систем.

2.1 Математическое моделирование метрологических характеристик аналоговых блоков ИИС.

2.1.1. Построение математической модели метрологической характеристики аналогового блока.

2.1.2. Статистическое моделирование состояния метрологических характеристик блоков ИИС.

2.1.3 Построение математической модели процесса изменения во времени метрологической характеристики блока ИИС. 57 2.2 Анализ способов повышения метрологической надежности

2.2.1 Алгоритм повышения метрологической надежности

2. 3Алгоритм решения задачи обеспечения требуемого метрологического ресурса ИС.

2.4 Алгоритм решения задачи нахождения максимума метрологического ресурса ИС.

2.5 Оптимальный выбор параметров элементов блоков ИС, обеспечивающих максимальную вероятность сохранения метрологической исправности 74 ИС.

Выводы.

3 ОБОБЩЕННАЯ МЕТОДИКА ОЦЕНКИ И ПОВЫШЕНИЯ

МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ АБ ИИС.

3.1 Общие положения.

3.2 Оценка и прогнозирование состояния метрологических 82 характеристик блоков ИИС.

3.3 Повышение метрологической надежности ИИС.

Выводы.

4 ПОВЫШЕНИЕ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ ИИС НК ТФС

НА ЭТАПЕ ПРОЕКТИРОВАНИЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ

РАЗРАБОТАННОЙ МЕТОДИКИ.

4.1 Повышение метрологической надежности ИИС, реализующих контактные методы РЖ ТФС материалов.

4.1.1 Повышение М Н блока аналого-импульсного 89 преобразователя.

4.1.2 Повышение М Р по критерию заданного МР.

4.1.3 Повышения М Н блока АИП по критерию вероятность 100 метрологической исправности.

4. 2Повышение метрологической надежности ИИС, реализующих бесконтактные методы НК ТФС материалов.

4.2.1 Повышение М Н блока входного каскада.

4.1.2 Повышение М Р по критерию заданного МР.

4.2.3 Повышение вероятности метрологической исправности блока входного каскада.

Выводы.

Заполнить форму текущей работой